薄膜太阳能电池缺陷成像方法应用研究进展

王伟; 洪家骏; 武娜; 林剑; 刘瑞; 马昌期

doi:10.37188/CJL.20250058

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薄膜太阳能电池缺陷成像方法应用研究进展

更新时间：2025-07-08

- 薄膜太阳能电池缺陷成像方法应用研究进展
  增强出版
- Research Progress in Defect Imaging Methods for Thin Film Solar Cells
- “纳米薄膜太阳能电池研究取得新进展，专家总结了OPV和PSCs微观缺陷成像方法与应用，为能源转型提供新方案。”
- 发光学报 2025年页码：1-14
- 作者机构：
  
  1.江苏科技大学材料科学与工程学院，江苏镇江 212100
  2.中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 i-Lab &印刷电子技术研究中心，江苏苏州 215123
- 作者简介：
  
  [ "王伟（1999-），男，湖北随州。硕士研究生，主要从事薄膜光伏电池微区成像系统的研究。wwang2023@sinano.ac.cn" ]
  [ "刘瑞（1979-），男，博士，副教授，研究方向为微纳米器件的设计、加工、封装和测试。liumicxz@126.com" ]
  [ "马昌期，中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所研究员，博士生导师，主要研究方向包括：有机光电功能半导体材料与器件。cqma201l@sinano.ac.cn" ]
- 基金信息：
  
  中科院装备项目(YJKYYQ20180029);中国科学院特别研究助理计划(E3551302)
- DOI：10.37188/CJL.20250058
  中图分类号：
- CSTR：32170.14.CJL.20250058
- 网络出版日期：2025-07-08，
- 稿件说明：
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王伟,洪家骏,武娜等.薄膜太阳能电池缺陷成像方法应用研究进展[J].发光学报,

WANG Wei,HONG Jiajun,WU Na,et al.Research Progress in Defect Imaging Methods for Thin Film Solar Cells[J].Chinese Journal of Luminescence,
王伟,洪家骏,武娜等.薄膜太阳能电池缺陷成像方法应用研究进展[J].发光学报, DOI：10.37188/CJL.20250058 CSTR： 32170.14.CJL.20250058.

WANG Wei,HONG Jiajun,WU Na,et al.Research Progress in Defect Imaging Methods for Thin Film Solar Cells[J].Chinese Journal of Luminescence, DOI：10.37188/CJL.20250058 CSTR： 32170.14.CJL.20250058.

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薄膜太阳能电池缺陷成像方法应用研究进展

Research Progress in Defect Imaging Methods for Thin Film Solar Cells

DOI：10.37188/CJL.20250058