На фоне ускоренной глобальной энергетической трансформации наноплёночные солнечные элементы, включая органические фотогальванические элементы (OPV) и перовскитовые солнечные элементы (PSC), привлекают большое внимание благодаря своей высокой эффективности, низкой стоимости и простоте производства. В настоящее время максимальная лабораторная эффективность однослойных органических солнечных элементов превысила 20%, а максимальная эффективность перовскитовых элементов превысила 26%. В статье рассматривается структура OPV и PSC, обобщаются основные функции электродов, транспортных слоев и светочувствительного слоя в элементах. На этом основании представлены принципы и методы обычного микронного дефектного картирования, включая фотолюминесценцию (PL), электролюминесценцию (EL), изображение тока, индуцированного лазерным лучом (LBIC), фазочувствительное тепловое изображение (LIT) и обобщены последние достижения применения этих методов в исследовании процессов разрушения OPV и PSC и характеристике однородности больших площадей. В заключение указываются недостатки текущих микродефектных методов тестирования и направления их будущего развития. Статья предоставляет комплексный обзор методов микродефектного картирования и их применения в новых наноплёночных солнечных элементах.

органические фотогальванические элементы; перовскитовые фотогальванические элементы; картирование дефектов; механизмы разрушения; анализ однородности