Forschungsfortschritte bei Anwendungen von Defektbildgebungsverfahren für Dünnschichtsolarzellen

WANG Wei ,  

HONG Jiajun ,  

WU Na ,  

LIN Jian ,  

LIU Rui ,  

MA Changqi ,  

摘要

Im Zuge der Beschleunigung der globalen Energiewende erhalten nanoskalige Dünnschicht-Solarzellen, einschließlich organischer Photovoltaikzellen (OPV) und Perowskit-Solarzellen (PSC), aufgrund ihrer hohen Effizienz, niedrigen Kosten und einfachen Herstellung große Aufmerksamkeit. Derzeit liegt die höchste Laborwirkungsgrad einlagiger organischer Solarzellen bereits über 20 %, während der höchste Wirkungsgrad von Perowskit-Zellen 26 % überschritten hat. Dieser Artikel geht von der Struktur von OPV und PSC aus und fasst die Hauptfunktionen der Elektroden, Transporteinstellungen und photoaktiven Schichten in den Solarzellen zusammen. Darauf aufbauend werden gängige Prinzipien und Methoden der Mikrodefek-Bildgebung vorgestellt, darunter Photolumineszenz (PL), Elektrolumineszenz (EL), laserstrahlinduziertes Stromabbild (LBIC) und phasenempfindliche Wärmebildgebung (LIT). Zudem wird ein Überblick über die neuesten Anwendungen dieser Methoden bei der Untersuchung von Ausfallmechanismen in OPV und PSC sowie der großflächigen Gleichmäßigkeit gegeben. Abschließend werden die derzeitigen Mängel der mikroskopischen Defektbildgebungstests sowie zukünftige Entwicklungsperspektiven aufgezeigt. Dieser Artikel bietet eine umfassende Einführung in mikrodefektbildgebende Verfahren und deren Anwendung bei neuartigen nanoskaligen Dünnschicht-Solarzellen.

关键词

organische photovoltaische Zellen; perowskit photovoltaische Zellen; Defektbildgebung; Ausfallmechanismen; Gleichmäßigkeitsanalyse

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