Avances en la aplicación de métodos de imagen de defectos en células solares de película fina

WANG Wei ,  

HONG Jiajun ,  

WU Na ,  

LIN Jian ,  

LIU Rui ,  

MA Changqi ,  

摘要

En el contexto de la aceleración de la transición energética global, las células solares de película nanométrica, incluidas las células fotovoltaicas orgánicas (OPV) y las células solares de perovskita (PSC), han recibido una amplia atención debido a su alta eficiencia, bajo costo y facilidad de fabricación. Actualmente, la máxima eficiencia de conversión en laboratorio de las células solares orgánicas de unión única ha superado el 20%, mientras que la eficiencia máxima de las perovskitas ha superado el 26%. Este artículo parte de la estructura de OPV y PSC para resumir las principales funciones del electrodo, la capa de transporte y la capa fotoactiva dentro de las células. Sobre esta base, se presentan los principios y métodos comunes de imagen de defectos microscópicos, incluidos la fotoluminiscencia (PL), la electroluminiscencia (EL), la imagen inducida por corriente de haz láser (LBIC) y la imagen térmica de fase bloqueada (LIT), resumiendo los últimos avances en la aplicación de estos métodos en el estudio de los procesos de fallo en OPV y PSC y la caracterización de la uniformidad a gran escala. Finalmente, se señalan las deficiencias actuales en las pruebas de imagen de defectos microscópicos y las direcciones futuras de desarrollo. Este artículo ofrece una introducción relativamente completa a los métodos de imagen de defectos microscópicos y sus aplicaciones en nuevas células solares de película nanométrica.

关键词

células fotovoltaicas orgánicas; células fotovoltaicas de perovskita; imagen de defectos; mecanismos de fallo; análisis de uniformidad

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