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电-热应力对GaN基白光LED可靠性的影响
发光学应用及交叉前沿 | 更新时间:2020-08-12
    • 电-热应力对GaN基白光LED可靠性的影响

    • Effect of Current-temperature Stress on The Reliability of GaN LED

    • 发光学报   2016年37卷第1期 页码:124-129
    • DOI:10.3788/fgxb20163701.0124    

      中图分类号: TN306
    • 纸质出版日期:2016-1-10

      收稿日期:2015-10-8

      修回日期:2015-11-3

    扫 描 看 全 文

  • 邹水平, 吴柏禧, 万珍平等. 电-热应力对GaN基白光LED可靠性的影响[J]. 发光学报, 2016,37(1): 124-129 DOI: 10.3788/fgxb20163701.0124.

    ZOU Shui-ping, WU Bo-xi, WAN Zhen-ping etc. Effect of Current-temperature Stress on The Reliability of GaN LED[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2016,37(1): 124-129 DOI: 10.3788/fgxb20163701.0124.

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