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X射线成像闪烁体光产额测量技术与优化方法
特邀报告 | 更新时间:2025-04-21
    • X射线成像闪烁体光产额测量技术与优化方法

      增强出版
    • Light Yield Measurement Technology and Optimization Methods of X-ray Imaging Scintillator

    • 发光学报   2025年46卷第4期 页码:630-641
    • DOI:10.37188/CJL.20240310    

      中图分类号: TL816+.1
    • CSTR:32170. 14. CJL. 20240310    
    • 收稿日期:2024-11-29

      修回日期:2024-12-18

      纸质出版日期:2025-04-25

    移动端阅览

  • 张誉戈,马舸,万鹏颖等.X射线成像闪烁体光产额测量技术与优化方法[J].发光学报,2025,46(04):630-641. DOI: 10.37188/CJL.20240310. CSTR: 32170. 14. CJL. 20240310.

    ZHANG Yuge,MA Ge,WAN Pengying,et al.Light Yield Measurement Technology and Optimization Methods of X-ray Imaging Scintillator[J].Chinese Journal of Luminescence,2025,46(04):630-641. DOI: 10.37188/CJL.20240310. CSTR: 32170. 14. CJL. 20240310.

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