La pantalla de imagenación con centelleo es un componente central en la tecnología de imagenología de rayos X, y la medición precisa del rendimiento luminoso es fundamental para mejorar la resolución espacial del sistema de imagen y promover el desarrollo de nuevos centelleadores. Este artículo primero ofrece una visión general de los principios básicos de la tecnología de imagen por rayos X, seguido de una revisión sistemática de los principales métodos actuales para medir el rendimiento luminoso de los centelleadores en la imagenología por rayos X. Estos métodos incluyen tanto mediciones relativas basadas en espectros energéticos y espectros de excitación de rayos X, como mediciones absolutas que utilizan tubos fotomultiplicadores (PMT), fotodiodos (PD) o fotodiodos en avalancha (APD). Además, se analizan en profundidad los posibles efectos de diversos factores sobre los resultados de la medición del rendimiento luminoso, como las técnicas de empaquetado y acoplamiento, las características energéticas de las fuentes radiactivas y tipos de partículas, así como los tipos de detectores fotoeléctricos utilizados para la medición. Por otra parte, se propone un método de medición absoluta del rendimiento luminoso basado en la corrección del coeficiente de recolección de luz. Este método combina eficazmente las ventajas del método absoluto utilizando PMT y PD, permitiendo mediciones de rendimiento luminoso a gran escala, cubriendo niveles de salida de cientos de fotones y manteniendo una baja incertidumbre de medición del 5%.

pantalla centelleadora;rendimiento luminoso;métodos de medición;optimización de incertidumbre