La pantalla de imagen por centelleo es un componente central en la tecnología de imágenes de rayos X, y la medición precisa de su rendimiento luminoso es vital para mejorar la resolución espacial del sistema de imagen y promover el desarrollo de nuevos centelleadores. Este artículo comienza con una visión general de los principios básicos de la tecnología de imágenes de rayos X, seguido de una revisión sistemática de los principales métodos actuales para medir el rendimiento luminoso de los centelleadores de imagen por rayos X. Estos métodos incluyen tanto mediciones relativas basadas en el espectro energético y en el espectro de excitación por rayos X, como mediciones absolutas que utilizan fotomultiplicadores (PMT), fotodiodos (PD) o fotodiodos de avalancha (APD). Además, el artículo analiza en profundidad los posibles efectos de diversos factores en los resultados de la medición del rendimiento luminoso, como las técnicas de encapsulado y acoplamiento, las características energéticas de las fuentes radiactivas y los tipos de partículas, así como los tipos de detectores fotoeléctricos utilizados. Finalmente, se propone un método de medición absoluta del rendimiento luminoso basado en la corrección del coeficiente de recolección de luz. Este método combina eficazmente las ventajas de las mediciones absolutas con PMT y PD, permitiendo medir el rendimiento luminoso en un amplio rango que cubre niveles de salida de cientos de fotones, manteniendo una baja incertidumbre de medición del 5%.

Pantalla de centelleo; rendimiento luminoso; métodos de medición; optimización de incertidumbre