L'écran scintillateur est un composant clé de la technologie d'imagerie aux rayons X, et la mesure précise du rendement lumineux est essentielle pour améliorer la résolution spatiale des systèmes d'imagerie et promouvoir le développement de nouveaux scintillateurs. Cet article présente tout d'abord un aperçu des principes fondamentaux de la technologie d'imagerie aux rayons X, puis passe en revue de manière systématique les principales méthodes actuelles de mesure du rendement lumineux des scintillateurs pour l'imagerie aux rayons X. Ces méthodes comprennent à la fois des techniques de mesure relative basées sur les spectres énergétiques et les spectres d'excitation aux rayons X, ainsi que des méthodes absolues utilisant des photomultiplicateurs (PMT), des photodiodes (PD) ou des photodiodes à avalanche (APD). Par ailleurs, cet article analyse en profondeur les impacts potentiels de divers facteurs sur les résultats de mesure du rendement lumineux, tels que les techniques d'emballage et d'accouplement, les caractéristiques d'énergie des sources radioactives et les types de particules, ainsi que les types de détecteurs photoélectriques utilisés pour la mesure. En outre, une méthode de mesure absolue du rendement lumineux basée sur la correction du coefficient de collecte de lumière est proposée. Cette méthode combine efficacement les avantages des mesures absolues utilisant PMT et PD, permettant une mesure du rendement lumineux à large échelle, couvrant des niveaux de sortie lumineux de l'ordre de centaines de photons, tout en maintenant une incertitude de mesure basse de 5 %.

écran scintillateur;rendement lumineux;méthodes de mesure;optimisation de l'incertitude