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高功率半导体激光列阵芯片测试表征与仿真优化
器件制备及器件物理 | 更新时间:2021-05-20
    • 高功率半导体激光列阵芯片测试表征与仿真优化

    • Testing Characterization and Simulating Optimization of High-power Laser Diode Array Chips

    • 发光学报   2021年42卷第5期 页码:674-681
    • DOI:10.37188/CJL.20210014    

      中图分类号: TN248.4
    • 纸质出版日期:2021-05-01

      收稿日期:2021-01-05

      修回日期:2021-01-19

    扫 描 看 全 文

  • 杜宇琦, 王贞福, 张晓颖, 等. 高功率半导体激光列阵芯片测试表征与仿真优化[J]. 发光学报, 2021,42(5):674-681. DOI: 10.37188/CJL.20210014.

    Yu-qi DU, Zhen-fu WANG, Xiao-Ying ZHANG, et al. Testing Characterization and Simulating Optimization of High-power Laser Diode Array Chips[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2021,42(5):674-681. DOI: 10.37188/CJL.20210014.

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