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1. 厦门大学物理系
2. 厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室, 福建厦门361005
收稿:1998-12-15,
修回:1999-6-8,
纸质出版:1999-11-30
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林秀华. Au对GaP接触界面形成及其特性[J]. 发光学报, 1999,20(4): 336-341
LIN Xiuhua. INTERFACE FORMATION AND PROPERTIESIN An CONTACT TO GaP[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1999,20(4): 336-341
林秀华. Au对GaP接触界面形成及其特性[J]. 发光学报, 1999,20(4): 336-341 DOI:
LIN Xiuhua. INTERFACE FORMATION AND PROPERTIESIN An CONTACT TO GaP[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1999,20(4): 336-341 DOI:
借助X射线衍射和扫描电子显微镜研究了An和GaP接触体系界面特性的温度依赖性。测量表明
既使在低于400℃温度下界面反应也会生成少量的An-GaP金属间化合物
它的主要成份是(GaAu)H
Ga
2
Au.在较高温度550℃合金条件下
GaP化合物表面发生分解
界面反应增强并伴随着快速的原子间互扩散。大量Ga原子向外迁移进人An膜复盖层。同时
An原子也内扩散进入GaP表面
An-Ga之间界面反应生成(GaAu)H
An和(GaAu)8O.实验结果指出
An和GaP接触界面是一个金属一半导体界面反应层和合金再生长层。它含有An、Ga、P原子。An-Ga金属间化合物的形成有助改善An膜机械强度和粘附性。扫描电子显微镜观察发现
当合金温度超过AuGa共熔温度470℃
表面形貌变得粗糙和不均匀。随着温度上升
M-S接触界面层微结晶颗粒变大。在600℃下
微结晶效应显着。事实上
这种合金条件无助于欧姆接触制备。
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