纸质出版日期:2020-11,
网络出版日期:,
收稿日期:2020-7-17,
修回日期:,
录用日期:2020-8-20
扫 描 看 全 文
引用本文
左文财, 文尚胜, 周悦, 等. GaN基白光二极管漏电失效分析[J]. 发光学报, 2020, 41(11):1431-1437.
Weng-cai ZUO, Shang-sheng WEN, Yue ZHOU, et al. Failure Mechanism Analysis of Reverse Leakage in GaN-based White LED[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2020, 41(11):1431-1437.
左文财, 文尚胜, 周悦, 等. GaN基白光二极管漏电失效分析[J]. 发光学报, 2020, 41(11):1431-1437. DOI: 10.37188/CJL.20200211.
Weng-cai ZUO, Shang-sheng WEN, Yue ZHOU, et al. Failure Mechanism Analysis of Reverse Leakage in GaN-based White LED[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2020, 41(11):1431-1437. DOI: 10.37188/CJL.20200211.
0
浏览量
26
下载量
0
总被引
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构