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X射线成像闪烁体光产额测量技术与优化方法
更新时间：2025-01-10
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    • X射线成像闪烁体光产额测量技术与优化方法

      增强出版

    • Light Yield Measurement Technology and Optimization Methods of X-ray Imaging Scintillator

    • “在X射线成像技术领域，专家综述了闪烁体光产额测量方法，并提出了基于光收集系数修正的绝对测量新方法，为提升成像系统空间分辨率和新型闪烁体研发提供解决方案。”
    • 发光学报   2025年 页码：1-12

    • DOI：10.37188/CJL.20240310    

      中图分类号：
    • CSTR：32170.14.CJL.20240310    

    • 网络出版日期：2025-01-10，

    移动端阅览

  • 张誉戈, 马舸, 万鹏颖, 等. X射线成像闪烁体光产额测量技术与优化方法[J/OL]. 发光学报, 2025,1-12. DOI： 10.37188/CJL.20240310. CSTR： 32170.14.CJL.20240310.

    ZHANG YUGE, MA GE, WAN PENGYING, et al. Light Yield Measurement Technology and Optimization Methods of X-ray Imaging Scintillator. [J/OL]. Chinese journal of luminescence, 2025, 1-12. DOI： 10.37188/CJL.20240310. CSTR： 32170.14.CJL.20240310.

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