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Zn、Cu共掺杂TiO2:SiO2薄膜材料的光学性能研究
材料合成及性能 | 更新时间:2020-08-12
    • Zn、Cu共掺杂TiO2:SiO2薄膜材料的光学性能研究

    • Optical Properties of Zn and Cu Co-doped TiO2: SiO2 Thin Film Materials

    • 发光学报   2017年38卷第1期 页码:27-31
    • DOI:10.3788/fgxb20173801.0027    

      中图分类号: O484.4;O644.1
    • 纸质出版日期:2017-1-5

      收稿日期:2016-7-25

      修回日期:2016-10-8

    扫 描 看 全 文

  • 伞靖, 魏长平, 孙双等. Zn、Cu共掺杂TiO<sub>2</sub>:SiO<sub>2</sub>薄膜材料的光学性能研究[J]. 发光学报, 2017,38(1): 27-31 DOI: 10.3788/fgxb20173801.0027.

    SAN Jing, WEI Chang-ping, SUN Shuang etc. Optical Properties of Zn and Cu Co-doped TiO<sub>2</sub>: SiO<sub>2</sub> Thin Film Materials[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2017,38(1): 27-31 DOI: 10.3788/fgxb20173801.0027.

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相关作者

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相关机构

天津工业大学 材料科学与工程学院
中国科学院安徽光学精密机械研究所
中国科学院固体物理研究所, 安徽, 合肥, 230031
江苏大学 环境与安全工程学院
江苏大学 化学与化工学院
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