您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
面向IGZO-TFT-AMOLED像素电路设计的VTH检测方法研究
发光学应用及交叉前沿 | 更新时间:2020-08-12
    • 面向IGZO-TFT-AMOLED像素电路设计的VTH检测方法研究

    • Investigation of VTH Detection Methods for AMOLED Pixel Circuit Design with IGZO-TFT

    • 发光学报   2016年37卷第5期 页码:608-615
    • DOI:10.3788/fgxb20163705.0608    

      中图分类号: TN7
    • 纸质出版日期:2016-5-5

      收稿日期:2015-12-13

      修回日期:2016-1-20

    扫 描 看 全 文

  • 王奥运, 胡照文, 陈蒙等. 面向IGZO-TFT-AMOLED像素电路设计的<em>V</em><sub>TH</sub>检测方法研究[J]. 发光学报, 2016,37(5): 608-615 DOI: 10.3788/fgxb20163705.0608.

    WANG Ao-yun, HU Zhao-wen, CHEN Meng etc. Investigation of <em>V</em><sub>TH</sub> Detection Methods for AMOLED Pixel Circuit Design with IGZO-TFT[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2016,37(5): 608-615 DOI: 10.3788/fgxb20163705.0608.

  •  
  •  

0

浏览量

89

下载量

0

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

大尺寸金属氧化物TFT面板设计分析
电极材料对IGZO薄膜晶体管性能的影响
基于a-IGZO TFT的AMOLED像素电路稳定性的仿真研究

相关作者

周雷
徐苗
吴为敬
夏兴衡
王磊
彭俊彪
刘冲
韦敏

相关机构

广州新视界光电科技有限公司
华南理工大学 发光材料与器件国家重点实验室
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
上海交通大学电子信息与电气工程学院 电子工程系
0