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确定半导体禁带宽度的光谱方法
更新时间：2025-02-11
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    • 确定半导体禁带宽度的光谱方法

      增强出版

    • Optical Spectroscopy Methods for Determining Semiconductor Bandgaps

    • “在半导体带隙测定领域，一项新的研究阐明了激子吸收、调制光谱和Tauc图方法之间的差异。专家xx证明，当激子吸收不可见时，调制光谱通常比Tauc图产生更有用和合理的带隙。”
    • 发光学报   2025年 页码：1-12

    • DOI：10.37188/CJL.EN20240013    

      中图分类号： Document
    • CSTR：32170.14.CJL.CJL.EN20240013    

    • 网络出版日期：2025-02-11，

    移动端阅览

  • 张勇.确定半导体禁带宽度的光谱方法[J].发光学报, DOI：10.37188/CJL.EN20240013 CSTR： 32170.14.CJL.CJL.EN20240013.

    Zhang Yong.Optical Spectroscopy Methods for Determining Semiconductor Bandgaps[J].Chinese Journal of Luminescence, DOI：10.37188/CJL.EN20240013 CSTR： 32170.14.CJL.CJL.EN20240013.

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