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确定半导体禁带宽度的光谱方法
发光学基础知识 | 更新时间：2025-07-18

    • 确定半导体禁带宽度的光谱方法

      增强出版

    • Optical Spectroscopy Methods for Determining Semiconductor Bandgaps

    • “在半导体带隙测定领域，一项新的研究阐明了激子吸收、调制光谱和Tauc图方法之间的差异。xx专家建立了xx系统，为解决带隙测定不准确的问题提供了解决方案。”
    • 发光学报   2025年46卷第7期 页码：1271-1282

    • DOI：10.37188/CJL.EN20240013    

      中图分类号： TN304
    • CSTR：32170.14.CJL.EN20240013    

    • 收稿日期：2024-10-10，

      修回日期：2024-12-23，

      纸质出版日期：2025-07-25

    移动端阅览

  • 张勇.确定半导体禁带宽度的光谱方法[J].发光学报,2025,46(07):1271-1282. DOI： 10.37188/CJL.EN20240013. CSTR： 32170.14.CJL.EN20240013.

    ZHANG Yong.Optical Spectroscopy Methods for Determining Semiconductor Bandgaps[J].Chinese Journal of Luminescence,2025,46(07):1271-1282. DOI： 10.37188/CJL.EN20240013. CSTR： 32170.14.CJL.EN20240013.

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