基于外差干涉法的微腔光频梳模式线宽分析与表征

张朗朗; 丁宝轲; 周治垒; 王文亭; 梁磊

doi:10.37188/CJL.20260218

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基于外差干涉法的微腔光频梳模式线宽分析与表征

更新时间：2026-08-04

- 基于外差干涉法的微腔光频梳模式线宽分析与表征
  增强出版
- Linewidth analysis and characterization of frequency microcomb modes via heterodyne interferometry
- 发光学报 2026年页码：1-9
- 作者机构：
  
  1.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林长春 130033
  2.中国科学院大学，北京 100049
  3.北京理工大学光电学院，北京 100081
- 作者简介：
  
  张朗朗（2002－），男，湖南人，硕士研究生，主要从事光电混合集成技术的研究。E-mail： zhanglanglang23@mails.ucas.ac.cn
  王文亭（1988－），男，内蒙古人，研究员，主要从事微波光子学，集成光电子学，精密测量等领域研究。E-mail： wtwang@bit.edu.cn
  梁磊（1985－），男，吉林人，研究员，主要从事固态激光雷达、空间激光通信、量子通信与传感、红外气体检测、激光农业等领域研究。E-mail： liangl@ciomp.ac.cn
- 基金信息：
  
  国家重点研发计划青年科学家项目(2023YFB2806200)
- DOI：10.37188/CJL.20260218
  中图分类号： TN247
- CSTR：32170.14.CJL.20260218
- 网络首发：2026-08-04，
- 稿件说明：
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张朗朗,丁宝轲,周治垒等.基于外差干涉法的微腔光频梳模式线宽分析与表征[J].发光学报,

ZHANG Langlang,DING Baoke,ZHOU Zhilei,et al.Linewidth analysis and characterization of frequency microcomb modes via heterodyne interferometry[J].Chinese Journal of Luminescence,
张朗朗,丁宝轲,周治垒等.基于外差干涉法的微腔光频梳模式线宽分析与表征[J].发光学报, DOI：10.37188/CJL.20260218 CSTR： 32170.14.CJL.20260218.

ZHANG Langlang,DING Baoke,ZHOU Zhilei,et al.Linewidth analysis and characterization of frequency microcomb modes via heterodyne interferometry[J].Chinese Journal of Luminescence, DOI：10.37188/CJL.20260218 CSTR： 32170.14.CJL.20260218.

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