El ancho de línea del peine de frecuencia láser es uno de los parámetros clave para medir su rendimiento y tiene una gran importancia en aplicaciones de comunicaciones ópticas coherentes en satélites, metrología de precisión y estándares de tiempo y frecuencia. Para mejorar la sensibilidad del sistema y el rendimiento general, el ancho de línea del peine de frecuencia generalmente debe reducirse a niveles de kilohertz o incluso hercios, lo que plantea mayores demandas para la caracterización precisa del ancho de línea de un modo láser individual. Este artículo se centra en la caracterización del ancho de línea del modo de peine de frecuencia en microresonadores Kerr, estudiando dos estados de medición de autointerferencia retardada: coherencia parcial a retrasos cortos y aproximación de incoherencia a retrasos largos. Se estableció una relación cuantitativa entre la diferencia de potencia del segundo pico y el segundo valle del envolvente coherente y el ancho de línea intrínseco del peine de frecuencia óptico, se optimizó la longitud de la fibra retardadora y se obtuvieron varios anchos de línea de modos del peine de frecuencia en microresonadores. El análisis teórico y los resultados experimentales muestran que, en condiciones apropiadas de retraso corto, el análisis del envolvente coherente basado en la diferencia de potencia puede reducir la ampliación de la línea espectral causada por el ruido de frecuencia baja, siendo adecuado para estimar la componente del ancho de línea correspondiente a la rápida difusión de fase. Además, este artículo utiliza el método de autointerferencia retardada a largo plazo para medir el ancho de línea del láser de bombeo y de los dientes del peine de frecuencia en microresonadores, y analiza el impacto del ruido de frecuencia baja, las perturbaciones ambientales en la fibra larga y los cambios en el estado coherente en los resultados de la medición. Las mediciones de autointerferencia retardada a cortos y largos retrasos tienen diferentes características de respuesta al ruido, proporcionando medios complementarios para evaluar el ancho de línea de peines en microresonadores ópticos de línea estrecha.

Ancho de línea láser; Peine de frecuencia de microresonador Kerr; Método de interferencia por heterodino