基于磷光强度比的高温表面温度测量技术

叶诚可; 蔡静; 占春连; 温悦

doi:10.37188/CJL.20250134

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基于磷光强度比的高温表面温度测量技术

发光学应用及交叉前沿 | 更新时间：2026-09-12

- 基于磷光强度比的高温表面温度测量技术
  增强出版
- High Temperature Surface Temperature Measurement Based on Phosphorescent Intensity Ratio
- 发光学报 2025年46卷第11期页码：2180-2191
- 作者机构：
  
  1.中国计量大学光学与电子信息学院，浙江杭州 310018
  2.北京长城计量测试技术研究所，北京 100095
- 作者简介：
  
  叶诚可（2000-），男，浙江宁波人，硕士研究生，2023年于中国计量大学获得学士学位，主要从事磷光温度测量相关的研究。E-mail： 3346359881@qq.com
  蔡静（1976-），女，河北石家庄人，博士，研究员，2005年于中国科学院电工研究所获得博士学位，主要从事热学计量与测试的研究。 E-mail： caijing@cimm.com.cn
- 基金信息：
  
  计量与校准技术实验室基金(JLKG2023001B006)
- DOI：10.37188/CJL.20250134
  中图分类号： TB942;O551.2
- CSTR：32170.14.CJL.20250134
- 收稿：2025-04-30，
  
  修回：2025-05-13，
  
  纸质出版：2025-11-25
- 稿件说明：
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叶诚可,蔡静,占春连等.基于磷光强度比的高温表面温度测量技术[J].发光学报,2025,46(11):2180-2191.

YE Chengke,CAI Jing,ZHAN Chunlian,et al.High Temperature Surface Temperature Measurement Based on Phosphorescent Intensity Ratio[J].Chinese Journal of Luminescence,2025,46(11):2180-2191.
叶诚可,蔡静,占春连等.基于磷光强度比的高温表面温度测量技术[J].发光学报,2025,46(11):2180-2191. DOI： 10.37188/CJL.20250134. CSTR： 32170.14.CJL.20250134.

YE Chengke,CAI Jing,ZHAN Chunlian,et al.High Temperature Surface Temperature Measurement Based on Phosphorescent Intensity Ratio[J].Chinese Journal of Luminescence,2025,46(11):2180-2191. DOI： 10.37188/CJL.20250134. CSTR： 32170.14.CJL.20250134.

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DOI：10.37188/CJL.20250134