Tecnología de medición de temperatura superficial de alta temperatura basada en la razón de intensidad de fosforescencia

YE Chengke ,  

CAI Jing ,  

ZHAN Chunlian ,  

WEN Yue ,  

摘要

Para mejorar el límite superior y la precisión de la medición de la temperatura mediante la tecnología de razón de intensidad de fosforescencia en la medición de la temperatura de superficies bidimensionales, se preparó un recubrimiento fosforescente Dy3+ dopado YAG/YAP con mayor sensibilidad a la temperatura mediante el método sólido en fase sólida a alta temperatura y unión química. Basado en el principio de sensibilidad a la temperatura de la razón de intensidad de picos característicos de fosforescencia, se estableció una curva de calibración de razón intensidad de fosforescencia-temperatura, y sobre esta base se construyó un sistema de medición de temperatura superficial para ambientes de alta temperatura. Finalmente se realizaron experimentos de comparación con una cámara termográfica infrarroja, y los resultados mostraron que el sistema tiene un buen rendimiento en la medición de la distribución bidimensional de temperatura en el rango de 650 a 1300 K, con un error máximo de medición del 1,24% y una incertidumbre del sistema de 1,60 K, mostrando un gran potencial de aplicación en la medición de temperatura superficial de objetivos de alta temperatura tales como tubos de viento supersónicos y componentes térmicos de motores aeronáuticos.

关键词

razón de intensidad de fosforescencia; recubrimiento fosforescente termosensible; medición de temperatura sin contacto; distribución de temperatura superficial

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