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GaN基Micro-LED反向漏电流失效机理分析
器件制备及器件物理 | 更新时间：2024-09-26
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    • GaN基Micro-LED反向漏电流失效机理分析

      增强出版

    • Analysis of Failure Mechanism of Reverse Leakage Current in GaN-based Micro-LEDs

    • “在GaN基蓝光Micro-LED芯片研究中，专家揭示了温度和电压应力对反向漏电流的影响，为提升芯片性能提供新见解。”
    • 发光学报   2024年45卷第9期 页码：1539-1546

    • DOI：10.37188/CJL.20240164    

      中图分类号： TN312+.8

    • 纸质出版日期：2024-09-25，

      收稿日期：2024-07-02，

      修回日期：2024-07-17，

    移动端阅览

  • 王伟, 张腾飞, 王绶玙. GaN基Micro-LED反向漏电流失效机理分析[J]. 发光学报, 2024,45(9):1539-1546. DOI： 10.37188/CJL.20240164.

    WANG WEI, ZHANG TENGFEI, WANG SHOUYU. Analysis of Failure Mechanism of Reverse Leakage Current in GaN-based Micro-LEDs. [J]. Chinese journal of luminescence, 2024, 45(9): 1539-1546. DOI： 10.37188/CJL.20240164.

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相关作者

王绶玙
张腾飞
王伟
赵梦云
陈晓钢
蔡俊虎
李恭明
查楠

相关机构

福州大学 物理与信息工程学院， 平板显示技术国家和地方联合工程实验室
中国福建光电信息科学与技术创新实验室（闽都创新实验室）
福州大学 物理与信息工程学院
中国福建光电信息科学与技术创新实验室
长春理工大学　光电工程学院
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