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基于PtOEP分子温度探针对OLED结温的判定及实验研究
发光产业及技术前沿 | 更新时间:2023-06-28
    • 基于PtOEP分子温度探针对OLED结温的判定及实验研究

    • Determination and Experimental Study of OLED Junction Temperature Based on PtOEP Molecular Temperature Probe

    • 发光学报  
    • DOI:10.37188/CJL.20220417    

      中图分类号: TN312.8
    • 纸质出版日期:2023-06-05

      收稿日期:2022-12-16

      修回日期:2023-01-03

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  • 引用本文

  • 丁川,姜雪松,许正印等.基于PtOEP分子温度探针对OLED结温的判定及实验研究[J].发光学报,2023,44(06):1069-1076. DOI: 10.37188/CJL.20220417.

    DING Chuan,JIANG Xuesong,XU Zhengyin,et al.Determination and Experimental Study of OLED Junction Temperature Based on PtOEP Molecular Temperature Probe[J].Chinese Journal of Luminescence,2023,44(06):1069-1076. DOI: 10.37188/CJL.20220417.

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