有机发光二极管老化机制

牛泉; 郝洪敏; 林雯欣; 黄江夏

doi:10.37188/CJL.20220317

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有机发光二极管老化机制

特邀报告 | 更新时间：2026-09-12

- 有机发光二极管老化机制
  增强出版
- Degradation Mechanism of Organic Light-emitting Diodes
- 发光学报 2023年44卷第1期页码：186-197
- 作者机构：
  
  华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室，广东广州　510640
- 作者简介：
  
  牛泉，女，博士，教授，博士生导师，2017年于德国马克斯普朗克高分子研究所获得博士学位，主要从事光电半导体与器件物理学，包括有机半导体电荷传输与复合机制、电荷陷阱效应与缺陷本质、器件稳定性机制与大面积低成本发光显示器件的应用性研究。
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(52103207);广东省自然科学基金(2022A1515011969)
- DOI：10.37188/CJL.20220317
  中图分类号： TN312.8
- 收稿：2022-08-30，
  
  修回：2022-09-15，
  
  纸质出版：2023-01-05
- 稿件说明：
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牛泉,郝洪敏,林雯欣等.有机发光二极管老化机制[J].发光学报,2023,44(01):186-197.

NIU Quan,HAO Hongmin,LIN Wenxin,et al.Degradation Mechanism of Organic Light-emitting Diodes[J].Chinese Journal of Luminescence,2023,44(01):186-197.
牛泉,郝洪敏,林雯欣等.有机发光二极管老化机制[J].发光学报,2023,44(01):186-197. DOI： 10.37188/CJL.20220317.

NIU Quan,HAO Hongmin,LIN Wenxin,et al.Degradation Mechanism of Organic Light-emitting Diodes[J].Chinese Journal of Luminescence,2023,44(01):186-197. DOI： 10.37188/CJL.20220317.

摘要

有机发光二极管（OLEDs）因在照明和显示领域的巨大潜在应用备受人们关注。在过去的三十年里，OLED器件的效率和寿命有了很大的提高，但对于商业应用而言提高器件寿命仍然是亟待解决的问题之一。为了进一步提升器件稳定性，则需要深入地研究OLED内部存在的老化机理。本文以小分子和聚合物OLEDs为例，综述了两种器件的老化机制。概括了OLED的一些外在和内在老化机制，并介绍了小分子和聚合物OLEDs老化机理的研究进展。对于小分子OLEDs，有研究提出其老化机理是激子与极化子的相互作用，形成陷阱导致器件老化。另一种理论认为激子与极化子的作用诱导分子聚集，促进界面老化。而对于聚合物OLEDs老化机理是激子与空穴相互作用，诱导空穴陷阱产生，导致了亮度、效率损失和驱动电压上升的现象。同时综述了目前一部分延长器件寿命的方案，为后续开发效率更高、寿命更长的OLED器件提供积极作用。

Abstract

Organic light-emitting diodes （OLEDs） have attracted much attention due to their huge potential applications in the field of lighting and display. In the past three decades， the efficiency and lifetime of OLED devices have been greatly improved. However， improving device lifetime is still one of the urgent problems to be solved for commercial applications. In order to further improve the stability of the device， it is necessary to study the intrinsic degradation mechanism intensively. In this paper， using examples in both small molecule and polymer OLEDs， the degradation mechanisms in two types of devices are examined. Some of the extrinsic and intrinsic degradation mechanisms in OLEDs are reviewed， and recent works on degradation studies of both small-molecule and polymer OLEDs are presented. For small-molecule OLEDs， some studies show that the degradation of devices is consistent with defect formation due primarily to exciton-polaron annihilation reactions， others show that degradation is closely linked to interactions between excitons and positive polarons， which lead to its aggregation near the interface and thus destroy the interface. For polymer OLEDs， the luminance loss and voltage rise dependence on time and current density are consistent with hole trap formation due to exciton-free hole interactions. Meanwhile， this paper summarizes some current effective solutions to increase the lifetime， which will play a positive role in the subsequent development of OLED devices with higher efficiency and longer lifetime.

关键词

Keywords

references

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