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有机发光二极管老化机制
特邀报告 | 更新时间:2023-02-16
    • 有机发光二极管老化机制

      增强出版
    • Degradation Mechanism of Organic Light-emitting Diodes

    • 发光学报   2023年44卷第1期 页码:186-197
    • DOI:10.37188/CJL.20220317    

      中图分类号: TN312.8
    • 收稿日期:2022-08-30

      修回日期:2022-09-15

      纸质出版日期:2023-01-05

    移动端阅览

  • 牛泉,郝洪敏,林雯欣等.有机发光二极管老化机制[J].发光学报,2023,44(01):186-197. DOI: 10.37188/CJL.20220317.

    NIU Quan,HAO Hongmin,LIN Wenxin,et al.Degradation Mechanism of Organic Light-emitting Diodes[J].Chinese Journal of Luminescence,2023,44(01):186-197. DOI: 10.37188/CJL.20220317.

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相关作者

牛泉
郝洪敏
林雯欣
黄江夏
李恭明
蔡俊虎
赖文宗
陈晓钢

相关机构

福州大学 物理与信息工程学院,平板显示技术国家和地方联合工程实验室
中国福建光电信息科学与技术创新实验室(闽都创新实验室)
苏州大学 放射医学与辐射防护国家重点实验室
南京邮电大学 材料科学与工程学院
南京邮电大学 有机电子与信息显示国家重点实验室
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