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俄歇复合、电子泄漏和空穴注入对深紫外发光二极管效率衰退的影响
封面文章 | 更新时间:2021-07-22
    • 俄歇复合、电子泄漏和空穴注入对深紫外发光二极管效率衰退的影响

      增强出版
    • Impact of Auger Recombination, Electron Leakage and Hole Injection on Efficiency Droop for DUV LEDs

    • Chinese Journal of Luminescence   2021年42卷第7期 页码:897-903
    • DOI:10.37188/CJL.20210102    

      中图分类号:

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  • 王玮东, 楚春双, 张丹扬, 等. 俄歇复合、电子泄漏和空穴注入对深紫外发光二极管效率衰退的影响[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2021,42(7):897-903. DOI: 10.37188/CJL.20210102.

    Wei-dong WANG, Chun-shuang CHU, Dan-yang ZHANG, et al. Impact of Auger Recombination, Electron Leakage and Hole Injection on Efficiency Droop for DUV LEDs[J]. 发光学报, 2021,42(7):897-903. DOI: 10.37188/CJL.20210102.

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