您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
基于可调光延迟线的光子学微波频率测量
器件制备及器件物理 | 更新时间:2020-08-12
    • 基于可调光延迟线的光子学微波频率测量

    • Microwave Frequency Measurement Based on Optic Delay Line

    • 发光学报   2011年32卷第9期 页码:944-949
    • 中图分类号: TN929.11
    • 收稿:2011-05-25,

      修回:2011-6-14,

      网络首发:2011-09-22,

      纸质出版:2011-09-22

    移动端阅览

  • 吴彭生, 韩秀友, 谷一英, 胡墅, 李善锋, 赵明山. 基于可调光延迟线的光子学微波频率测量[J]. 发光学报, 2011,32(9): 944-949 DOI:

    WU Peng-sheng, HAN Xiu-you, GU Yi-ying, HU Shu, LI Shan-feng, ZHAO Ming-shan. Microwave Frequency Measurement Based on Optic Delay Line[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2011,32(9): 944-949 DOI:

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

浏览量

911

下载量

1

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

手性BODIPY圆偏振发光材料:分子设计及其应用
(Ga/Al)4GeO8∶Cr3+荧光粉的多格位超宽带近红外发光
基于混合波导-表面等离极化激元结构的胶体量子点放大自发发射性能研究
NaYF4∶Yb,Tm@CsPbBr3异质结构制备与发光性能
镧系金属有机框架材料在防伪中的应用

相关作者

暂无数据

相关机构

暂无数据
0