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低温缓冲层对氧化锌薄膜质量的影响
第八届全国发光学学术会议研究论文 | 更新时间：2020-08-11

    • 低温缓冲层对氧化锌薄膜质量的影响

    • Effects of the Low-temperature Buffer Layer on the Properties of ZnO Thin Films

    • 发光学报   2008年29卷第1期 页码：124-128
    • 中图分类号： O482.31

    • 收稿：2007-08-25，

      修回：2007-11-24，

      纸质出版：2008-01-20

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  • 石增良, 刘大力, 闫小龙, 高忠民, 徐经纬, 白石英. 低温缓冲层对氧化锌薄膜质量的影响[J]. 发光学报, 2008,29(1): 124-128 DOI：

    SHI Zeng-liang, LIU Da-li, YAN Xiao-long, GAO Zhong-min, XU Jing-wei, BAI Shi-ying. Effects of the Low-temperature Buffer Layer on the Properties of ZnO Thin Films[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2008,29(1): 124-128 DOI：

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北京交通大学 发光与光信息技术教育部重点实验室
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