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ZnO:Al薄膜中本征缺陷对光电效应的影响
研究论文 | 更新时间：2020-08-11

    • ZnO:Al薄膜中本征缺陷对光电效应的影响

    • Effect of the Intrinsic Defects in ZnO:Al Films on Photoemission

    • 发光学报   2004年25卷第3期 页码：309-312
    • 中图分类号： O472.3

    • 收稿：2003-03-19，

      修回：2003-5-12，

      纸质出版：2004-05-20

    移动端阅览

  • 段理, 林碧霞, 朱俊杰, 汪进, 张国非, 傅竹西. ZnO:Al薄膜中本征缺陷对光电效应的影响[J]. 发光学报, 2004,25(3): 309-312 DOI：

    DUAN Li, LIN Bi-xia, ZHU Jun-jie, WANG Jin, ZHANG Guo-fei, FU Zhu-xi. Effect of the Intrinsic Defects in ZnO:Al Films on Photoemission[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2004,25(3): 309-312 DOI：

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