浏览全部资源
扫码关注微信
1. 中国科学技术大学, 物理系, 安徽, 合肥, 230026
2. 中国科学院结构分析重点实验室
收稿:2002-08-20,
修回:2002-9-20,
纸质出版:2004-03-20
移动端阅览
傅竹西, 林碧霞, 何一平, 廖桂红. ZnO薄膜光学常数测量[J]. 发光学报, 2004,25(2): 159-162
FU Zhu-xi, LIN Bi-xia, HE Yi-ping, LIAO Gui-hong. Optical Constwts of ZnO Thin Films[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2004,25(2): 159-162
傅竹西, 林碧霞, 何一平, 廖桂红. ZnO薄膜光学常数测量[J]. 发光学报, 2004,25(2): 159-162 DOI:
FU Zhu-xi, LIN Bi-xia, HE Yi-ping, LIAO Gui-hong. Optical Constwts of ZnO Thin Films[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2004,25(2): 159-162 DOI:
利用Kramers-Kronig方法(K-K方法)测量了ZnO薄膜的复分电常数和复折射率(折射率和消光系数).为了满足K-K方法所要求的条件
光源发出的光束通过一个特殊设计的中间带孔的反射镜垂直投射到ZnO薄膜表面
在ZnO薄膜表面产生的反射光穿过反射镜中间的小孔进入单色仪
从而测量出正入射情况下ZnO薄膜的反射光谱.对有限波段下测量的数据经合理的外推后
得出全波段的薄膜反射谱
然后利用K-K方法计算出ZnO薄膜的复分电常数和复折射率.实验结果表明
氧化锌薄膜在可见光范围内的折射率近似为一常数3.5;在430nm附近出现折射率最大值
而在短波长范围所对应的折射率大大降低
其值在0.5~2.5之间起伏波动.
0
浏览量
215
下载量
5
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构