ZnO薄膜的反射、透射光谱及能带结构测量

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研究论文 | 更新时间：2020-08-11

- ZnO薄膜的反射、透射光谱及能带结构测量
- Reflection and Transmission Spectra of ZnO Films and Its Band-gap Structure
- 发光学报 2002年23卷第6期页码：559-562
- 作者机构：
  
  1. 中国科学技术大学物理系
  2. 中国科学院结构分析开放实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(10174072,50142016)();国家科技部快速反应基金([2001]584)资助项目()
- DOI：
  中图分类号： O472.3
- 收稿：2002-08-03，
  
  修回：2002-9-20，
  
  纸质出版：2002-11-20
- 稿件说明：
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傅竹西, 林碧霞, 何一平, 廖桂红. ZnO薄膜的反射、透射光谱及能带结构测量[J]. 发光学报, 2002,23(6): 559-562

FU Zhu-xi, LIN Bi-xia, HE Yi-ping, LIAO Gui-hong. Reflection and Transmission Spectra of ZnO Films and Its Band-gap Structure[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2002,23(6): 559-562
傅竹西, 林碧霞, 何一平, 廖桂红. ZnO薄膜的反射、透射光谱及能带结构测量[J]. 发光学报, 2002,23(6): 559-562 DOI：

FU Zhu-xi, LIN Bi-xia, HE Yi-ping, LIAO Gui-hong. Reflection and Transmission Spectra of ZnO Films and Its Band-gap Structure[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2002,23(6): 559-562 DOI：

采用正入射的方法研究了生长在硅基片上的氧化锌薄膜的反射光谱

测量出氧化锌薄膜的光学吸收边在370nm

所对应的能量值为3.35eV。测量生长在石英玻璃基片上的氧化锌薄膜的透射光谱

得到相同的吸收边。表明ZnO薄膜的光学禁带宽度与体材料的禁带宽度一致。反射谱中

在550～600nm之间观察到一个吸收峰

吸收峰的位置以及吸收边的陡峭程度都随薄膜的结晶状况的不同而有所不同。

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