火焰原子吸收法测定CdSe薄膜晶体管中Cd与Se的化学组成质量比

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学术论文 | 更新时间：2020-08-11

- 火焰原子吸收法测定CdSe薄膜晶体管中Cd与Se的化学组成质量比
- Determination of Mass Ratio of Chemical Composition in CdSe Thin Film Transistors by FAAS
- 发光学报 2002年23卷第2期页码：206-208
- 作者机构：
  
  中国科学院激发态物理开放研究实验室, 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家863计划资助项目(863-715-003-0070)()
- DOI：
  中图分类号： O657.31
- 收稿：2001-08-18，
  
  修回：2001-9-20，
  
  纸质出版：2002-03-20
- 稿件说明：
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任新光. 火焰原子吸收法测定CdSe薄膜晶体管中Cd与Se的化学组成质量比[J]. 发光学报, 2002,23(2): 206-208

REN Xin-guang. Determination of Mass Ratio of Chemical Composition in CdSe Thin Film Transistors by FAAS[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2002,23(2): 206-208
任新光. 火焰原子吸收法测定CdSe薄膜晶体管中Cd与Se的化学组成质量比[J]. 发光学报, 2002,23(2): 206-208 DOI：

REN Xin-guang. Determination of Mass Ratio of Chemical Composition in CdSe Thin Film Transistors by FAAS[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2002,23(2): 206-208 DOI：

以特纯CdSe为标样

用火焰原子吸收法(FAAS)

分别测定CdSe薄膜晶体管(TFT)中Cd与Se的含量及化学组成质量比

分别验证了CdSe粉末总量测定值

CdSe粉末化学组成质量比测定值

薄膜样品测定值的准确度

其相对误差分别为0.42%、-3.8%和-0.5%。分析了薄膜样品化学组成质量比及影响其匹配的因素。通过测定数据对TFT的质量提供评价

进而指导操作工艺的改进。本实验由于采用同一标样

被测物质与标准样品的组成和浓度基本相同

消除了元素间的相互干扰

提高了分析结果的准确度

并无需作干扰和回收率实验。

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