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用X射线衍射法测定氮化镓马赛克结构中的面内扭转角
研究论文 | 更新时间：2020-08-11

    • 用X射线衍射法测定氮化镓马赛克结构中的面内扭转角

    • Twist Angle of Mosaic Structure in GaN Films Determined by X-ray Diffraction

    • 发光学报   2006年27卷第4期 页码：514-518
    • 中图分类号： TN383.1;O474;O482.31

    • 收稿：2006-01-20，

      修回：2006-4-8，

      纸质出版：2006-07-20

    移动端阅览

  • 苏月永, 陈志涛, 徐科, 郭立平, 潘尧波, 杨学林, 杨志坚, 张国义. 用X射线衍射法测定氮化镓马赛克结构中的面内扭转角[J]. 发光学报, 2006,27(4): 514-518 DOI：

    SU Yue-yong, CHEN Zhi-tao, XU Ke, GUO Li-ping, PAN Yao-bo, YANG Xue-lin, YANG Zhi-jian, ZHANG Guo-yi. Twist Angle of Mosaic Structure in GaN Films Determined by X-ray Diffraction[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2006,27(4): 514-518 DOI：

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