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用AFM和XPS研究LiBq4/ITO的表面和界面
研究论文 | 更新时间：2020-08-11

    • 用AFM和XPS研究LiBq4/ITO的表面和界面

    • Surface and Interface Analysis of LiBq4/ITO Using Atomic Force Microscopy (AFM) and X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

    • 发光学报   2005年26卷第3期 页码：337-343
    • 中图分类号： TN383.1;TN873.3

    • 收稿：2004-06-05，

      修回：2004-12-6，

      纸质出版：2005-05-20

    移动端阅览

  • 欧谷平, 桂文明, 金世超, 张福甲. 用AFM和XPS研究LiBq<sub>4</sub>/ITO的表面和界面[J]. 发光学报, 2005,26(3): 337-343 DOI：

    OU Gu-ping, GUI Wen-ming, JIN Shi-chao, ZHANG Fu-jia. Surface and Interface Analysis of LiBq<sub>4</sub>/ITO Using Atomic Force Microscopy (AFM) and X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2005,26(3): 337-343 DOI：

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