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Ga1-xAlxAs外延片有源区Al组份的测定方法
论文 | 更新时间:2021-03-18
    • Ga1-xAlxAs外延片有源区Al组份的测定方法

    • A MEASURABLE METHOD OF ALUMINIUM COMPOSITE OF Ga1-xAlxAs EPITAXIAL MATERIAL WITHIN ACTIVE REGION

    • 发光学报   1998年19卷第4期 页码:361-363

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  • 刘学彦. Ga1-xAlxAs外延片有源区Al组份的测定方法[J]. 发光学报, 1998,19(4): 361-363 DOI:

    Liu Xueyan. A MEASURABLE METHOD OF ALUMINIUM COMPOSITE OF Ga1-xAlxAs EPITAXIAL MATERIAL WITHIN ACTIVE REGION[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1998,19(4): 361-363 DOI:

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