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中国科学院长春物理研究所, 长春 130021
收稿:1993-05-13,
纸质出版:1993-05-30
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温庆祥, 罗宗铁. 多孔硅的电荷存贮现象[J]. 发光学报, 1993,14(2): 203-205
Wen Qingxiang, Lou Zhongtie. CHARGES STORAGE PHENOMENON IN THE POROUS SILICON[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1993,14(2): 203-205
温庆祥, 罗宗铁. 多孔硅的电荷存贮现象[J]. 发光学报, 1993,14(2): 203-205 DOI:
Wen Qingxiang, Lou Zhongtie. CHARGES STORAGE PHENOMENON IN THE POROUS SILICON[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1993,14(2): 203-205 DOI:
Uhlir
[1]
和Tunner
[2]
发现多孔硅(PS)以来
对其形成机制
电化学特性等进行了深入细致的研究.特别是近年Canham
[3]
观察到PS的可见光致发光现象后
PS的光电特性成为人们研究的焦点.在我们的研究中
首次观察到PS具有存贮电荷的能力.
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