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中国科学院长春物理研究所
收稿:1988-02-27,
纸质出版:1989-02-28
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黄锡珉. 在ZnS<sub>x</sub>Se<sub>1-x</sub>单晶中本征缺陷的研究[J]. 发光学报, 1989,10(1): 11-16
Huang Ximin. STUDY OF NATIVE DEFECTS IN ZnS<sub>x</sub>Se<sub>1-x</sub> SINGLE CRYSTALS[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1989,10(1): 11-16
黄锡珉. 在ZnS<sub>x</sub>Se<sub>1-x</sub>单晶中本征缺陷的研究[J]. 发光学报, 1989,10(1): 11-16 DOI:
Huang Ximin. STUDY OF NATIVE DEFECTS IN ZnS<sub>x</sub>Se<sub>1-x</sub> SINGLE CRYSTALS[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1989,10(1): 11-16 DOI:
本文用气相法生长ZnS
x
Se
1-x
(x=0.03)单晶
解理得到(110)面晶片。在组分分压(Zn或S/Se或Se)下300-800℃范围内进行热处理
在4.2K激子发射光谱中观察到与V
Zn
(Zn空位)有关的I
1
deep
谱线强度的变化。当热处理温度低于300℃时
未观察到I
deep谱线强度的变化。在300℃以上热处理样品中均观察到I
deep谱线强度的变化。由此研究了V
浓度随热处理条件的变化。提供了分别控制本征V
缺陷和掺杂的实验依据。
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CSCD
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