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MBE[(GaAs)l(Ga1-λAlxAs)m]n/GaAS(001)一维超晶格的X射线双晶衍射测量
与发光有关的实验技术 | 更新时间：2020-08-11

    • MBE[(GaAs)l(Ga1-λAlxAs)m]n/GaAS(001)一维超晶格的X射线双晶衍射测量

    • MEASUREMENT OF MBE[(GaAs)l(Ga1-λAlxAs)m]n/GaAS(001) ONE-DIMENSIONAL SUPERLATTICE STRUCTURE PARAMETERS BY X-RAY DOUBLE-CRYSTAL DIFFRACTION METHOD

    • 发光学报   1989年10卷第1期 页码：82-96

    • 收稿：1988-03-21，

      纸质出版：1989-02-28

    移动端阅览

  • 王玉田. MBE[(GaAs)<sub>l</sub>(Ga<sub>1-λ</sub>Al<sub>x</sub>As)<sub>m</sub>]<sub>n</sub>/GaAS(001)一维超晶格的X射线双晶衍射测量[J]. 发光学报, 1989,10(1): 82-96 DOI：

    Wang Yutian. MEASUREMENT OF MBE[(GaAs)<sub>l</sub>(Ga<sub>1-λ</sub>Al<sub>x</sub>As)<sub>m</sub>]<sub>n</sub>/GaAS(001) ONE-DIMENSIONAL SUPERLATTICE STRUCTURE PARAMETERS BY X-RAY DOUBLE-CRYSTAL DIFFRACTION METHOD[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1989,10(1): 82-96 DOI：

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