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中国科学院长春物理研究所
纸质出版:1986-08-30
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叶平. 低温光致发光微计算机测试系统[J]. 发光学报, 1986,7(3): 287-294
Ye Ping. PHOTOLUMINESCENCE MEASUREMENT SYSTEM BASED ON AN IBM-PC MICROCOMPUTER[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1986,7(3): 287-294
叶平. 低温光致发光微计算机测试系统[J]. 发光学报, 1986,7(3): 287-294 DOI:
Ye Ping. PHOTOLUMINESCENCE MEASUREMENT SYSTEM BASED ON AN IBM-PC MICROCOMPUTER[J]. Chinese Journal of Luminescence, 1986,7(3): 287-294 DOI:
低温光致发光微计算机测试系统(PL-PC)是应用IBM-PC微计算机和先进的具有软件的数据采集系统(Keithley DAS Series 500)等配接到低温光致发光测量设备上
对固体材料的光致发光进行测试.特别是对Ⅲ-V族
Ⅱ-Ⅵ族半导体化合物的测试显著提高了效率和精度.实现了理想的测量控制、数据采集、数据处理和管理.对数据采集采用光编码器等作直接同步控制
采集精度从10Å-0.04Å可调
采集灵敏度<1mV
对测试结果(数据、谱线、计算结果、测试条件等)可以显示、记录、打印、存储等多种方式任选输出
全部过程在程序控制下进行.应用程序使用BASIC和Soft500写成
采用“菜单”方式
模块结构
使用方便
灵活、稳定、可靠.
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