El óxido de lutecio (Lu₂O₃) como material cristalino láser con un gran potencial de aplicación, posee alta conductividad térmica, baja energía de fonones y fuertes características del campo cristalino, lo que le otorga ventajas significativas en el campo del láser. Sin embargo, el punto de fusión cristalino llega a 2450℃, lo que dificulta mantener un gradiente térmico estable en temperaturas tan altas de crecimiento cristalino, provocando un crecimiento localmente desigual, lo que induce un aumento masivo de defectos cristalinos que afecta seriamente la calidad del cristal. Este artículo verifica los defectos de los pequeños ángulos de borde en los cristales Lu₂O₃ mediante el uso de haz de iones enfocado - microscopio electrónico de barrido y microscopio electrónico de transmisión; se caracteriza la influencia de los defectos de pequeños ángulos de borde en la calidad del cristal por difracción de rayos X de alta resolución y difracción de Laue; mediante microscopía electrónica de transmisión de campo oscuro anular de alto ángulo y análisis de transformada inversa de Fourier se exploran las causas de las fosas de dislocación cerca de las fronteras cristalinas, proporcionando orientación teórica para optimizar el proceso de crecimiento del cristal y mejorar el rendimiento del cristal.

cristales Lu₂O₃;pequeños ángulos de borde;curva de oscilación;defectos de dislocación