El óxido de lutecio (Lu2O3) como material de cristal de láser con un gran potencial de aplicación, su alta conductividad térmica, baja energía fonónica y fuertes campos cristalinos hacen que sea una ventaja significativa en el campo del láser. Sin embargo, el punto de fusión del cristal alcanza los 2450 °C, y una temperatura de crecimiento tan alta dificulta mantener un gradiente de calor estable, lo que resulta en una velocidad de crecimiento local desigual y estimula el aumento significativo de los defectos cristalinos, lo que afecta gravemente la calidad del cristal. Este estudio utiliza la microscopía electrónica de barrido con haz iónico para verificar la presencia de defectos en los bordes cristalinos de ángulo pequeño del óxido de lutecio Lu2O3; se utiliza una caracterización de difracción de rayos X de alta resolución y de Laue para determinar el efecto de los defectos de los bordes de ángulo pequeño en la calidad del cristal; se realiza un análisis de las causas de las cavidades de erosión cerca del borde cristalino a través de la microscopía electrónica de transmisión de barrido de campo oscuro de alto ángulo y el procesamiento de transformada de Fourier inversa, proporcionando así orientación teórica para optimizar el proceso de crecimiento del cristal y mejorar su rendimiento.

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