La detección de rayos X se utiliza ampliamente en diagnóstico médico, inspección industrial, seguridad y otros campos, siendo el detector de matriz de rayos X un componente clave en los dispositivos de imagen. El uso de materiales semiconductores para convertir directamente los rayos X en señal eléctrica permite lograr una alta resolución espacial. En los últimos años, los materiales de perovskita se han convertido en materiales destacados para detectores directos de rayos X debido a su alto número de atenuación de rayos X, larga distancia de difusión de portadores y estabilidad frente a la radiación. Este artículo presenta una introducción breve al principio de detección directa de rayos X, propiedades clave y materiales principales, explica las ventajas de las perovskitas halogenuros en detectores directos de rayos X, revisa las características y avances recientes de detectores de píxel único y detectores de matriz integrados con TFT, y finalmente propone los desafíos técnicos actuales y posibles soluciones, ofreciendo una perspectiva sobre el desarrollo futuro de detectores de matriz de rayos X basados en perovskitas halogenuros.

imagen por detección de rayos X; perovskita; detector de matriz; integración TFT