Прогресс исследований применения методов визуализации дефектов тонкопленочных солнечных элементов

WANG Wei ,  

HONG Jiajun ,  

WU Na ,  

LIN Jian ,  

LIU Rui ,  

MA Changqi ,  

摘要

В условиях ускоренной глобальной энергетической трансформации нанопленочные солнечные элементы, включая органические фотоэлементы (OPV) и перовскитные солнечные элементы (PSC), привлекают широкое внимание благодаря высокой эффективности, низкой стоимости и простоте производства. В настоящее время лабораторный максимум коэффициента преобразования для однослойных органических солнечных элементов превысил 20%, а для перовскитных — более 26%. В статье рассматривается структура OPV и PSC, суммируются основные функции электродов, транспортных слоев и фотоактивного слоя в элементах. На этой основе представлены принципы и методы микрооблаcтной дефектной визуализации, включая фотолюминесцентную (PL), электролюминесцентную (EL) визуализацию, визуализацию индуцированного лазерным лучом тока (LBIC) и локализованную тепловую визуализацию (LIT), резюмируются последние достижения применения данных методов для изучения механизмов выхода из строя и характеристики однородности на больших площадях для OPV и PSC. В заключение указываются текущие недостатки микродефектной визуализации и направления её будущего развития. Данная работа предоставляет относительно полное введение в методы и применение визуализации микродефектов новых нанопленочных солнечных элементов.

关键词

Органические фотоэлементы;Перовскитные фотоэлементы;Визуализация дефектов;Механизмы выхода из строя;Анализ однородности

阅读全文