Оксид лютеция (Lu2O3) считается перспективным материалом для лазерных кристаллов благодаря высокой теплопроводности, низкой энергии фононов и сильному кристаллическому полю. Однако его высокая температура плавления до 2450 ℃ вызывает значительные температурные градиенты, что приводит к образованию большого количества дефектов. Исследования дефектов этого кристалла недостаточны, что препятствует улучшению качества кристалла. В данном исследовании мы применили метод химического травления для изучения эффектов травления кристаллов Lu2O3 при различных условиях и определили лучшие условия для изучения дислокационных дефектов Lu2O3 (массовая доля 70% H3PO4, 160 ℃, 15~18 минут). Морфология травильных ямок дислокаций на кристаллах Lu₂O₃ с ориентацией (111) и (110) была охарактеризована с помощью оптического микроскопа, сканирующего электронного микроскопа и атомно-силового микроскопа. Это исследование закрывает пробел в понимании линейных дефектов Lu2O3 и предоставляет руководство для оптимизации процесса роста кристаллов и улучшения их качества.