Облучение является общей ключевой проблемой в таких областях, как медицинская визуализация, крупные научные установки и космическая промышленность. Исследование стабильности материалов при высокоэнергетическом облучении и механизмов повреждения является необходимым этапом на пути к практическому применению. Новые перовскитные полупроводниковые материалы обладают большим потенциалом для использования в области высокоэнергетического радиационного детектирования, однако их стабильность при таком облучении вызывает споры, а механизмы повреждения остаются неясными. В данной работе рассматриваются механизмы повреждения перовскита в условиях высокоэнергетического излучения и основные факторы, влияющие на стабильность, а также предлагаются потенциальные стратегии усиления радиационной стойкости перовскитных материалов с целью установления структуры-стабильности и предоставления эффективных рекомендаций для разработки радиационных детекторов на основе перовскита.

перовскит;стабильность при облучении;механизмы повреждения