Замещение ионов Al/Ga для улучшения характеристики излучения во второй поддиапазон ближнего инфракрасного диапазона Ni2+-допированного шпинельного MgAlxGa2-xO4
Быстрое развитие светодиодов с преобразованием ближнего инфракрасного свечения (pc-LED) в области визуализации и обнаружения подчеркивает острую необходимость в материалах для эмиссии во второй окрестности ближнего инфракрасного диапазона (NIR-Ⅱ). Однако нехватка эффективных NIR-Ⅱ флуоресцентных материалов, возбуждаемых коммерческими УФ-светодиодными чипами, ограничивает применение ближнеинфракрасных спектроскопических технологий. В данной работе успешно синтезирован флуоресцентный материал MgAlxGa2-xO4∶Ni2+ методом высокотемпературного твердотельного синтеза, у которого длина возбуждения составляет 390 нм, а пик излучения находится на 1300 нм, охватывая область NIR-Ⅱ. Сверхширокополосное излучение в NIR с полушириной около 220 нм связано с тем, что Ni2+ находится в слабом кристаллическом поле, что вызвано пространственной асимметрией из-за сильной зарядовой поляризации вокруг октаэдрических центров [(Al/Ga)O6] в матрице MgAlxGa2-xO4. Регулируя соотношение ионов Al3+ и Ga3+ в системе, интенсивность излучения в диапазоне NIR-Ⅱ значительно увеличивается, при этом светоотдача увеличивается примерно в 9 раз. Особое внимание уделено спектральным характеристикам образца с оптимальным содержанием Ni2+ MgAl1.5Ga0.5O4. Изучены температурные характеристики системы, а также сконструирован NIR pc-LED с использованием Ni2+-легированного ближневосточного фосфора и коммерческого высокоэффективного УФ-светодиодного чипа (@395 нм). Исследование показало, что данный материал может иметь большой потенциал в спектроскопической технике pc-LED. Данная стратегия катионного модулирования представляет эффективный метод улучшения характеристик материалов для ближнего инфракрасного свечения.