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原子力显微镜在PLD法制备ZnO薄膜表征中的应用
论文 | 更新时间:2020-08-12
    • 原子力显微镜在PLD法制备ZnO薄膜表征中的应用

    • Application of Atomic Force Microscope in the Characterization of ZnO Thin Films Fabricated by Pulsed Laser Deposition

    • 发光学报   2009年30卷第1期 页码:63-68

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  • 李丽丽, 梁 齐, 仇旭升, 等. 原子力显微镜在PLD法制备ZnO薄膜表征中的应用[J]. 发光学报, 2009,30(1):63-68. DOI:

    LI Li-li, LIANG Qi, QIU Xu-sheng, et al. Application of Atomic Force Microscope in the Characterization of ZnO Thin Films Fabricated by Pulsed Laser Deposition[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2009,30(1):63-68. DOI:

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合肥工业大学 应用物理系
中国科学技术大学物理系, 安徽合肥 230026
中国科学技术大学
浙江大学物理系, 固体光电子材料物理与器件实验室
厦门大学, 物理系, 福建, 厦门, 361005
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