Filmes bidimensionais monoclí­nicos de dióxido de molibdênio possuem desempenho excelente comparável ao dos metais nobres, e podem ser ajustados pela espessura do filme, mostrando grande potencial de aplicação em áreas como monitoramento ambiental, detectores de águas residuais e sensores. Uma das condições prévias para obter dispositivos de filmes bidimensionais de dióxido de molibdênio de alto desempenho é a capacidade de detectar a espessura do filme in situ, de forma rápida e não destrutiva. Este artigo investiga a dependência do espectro Raman dos filmes bidimensionais de dióxido de molibdênio em relação à espessura do filme e propõe um método para a detecção in situ e não destrutiva da espessura. Usando uma fonte de excitação de 532 nm, a variação do pico característico de Raman em 127 cm^-1 dos filmes bidimensionais de dióxido de molibdênio pode refletir efetivamente as mudanças na espessura do material. Ao alterar a polarização da luz de excitação, também é possível calibrar a orientação do eixo cristalino dos filmes bidimensionais de dióxido de molibdênio. Esses resultados de caracterização Raman fornecem um meio eficaz e conveniente para monitorar a espessura do filme em dispositivos de filmes bidimensionais de dióxido de molibdênio.

Filmes de dióxido de molibdênio;Espectroscopia Raman;Detecção in situ não destrutiva