Progresso na aplicação de métodos de imageamento de defeitos em células solares de película fina

WANG Wei ,  

HONG Jiajun ,  

WU Na ,  

LIN Jian ,  

LIU Rui ,  

MA Changqi ,  

摘要

No contexto da aceleração da transição energética global, as células solares de película nanométrica, incluindo células fotovoltaicas orgânicas (OPV) e células solares de perovskita (PSC), têm recebido ampla atenção devido à sua alta eficiência, baixo custo e facilidade de fabricação. Atualmente, a maior eficiência de conversão laboratorial das células solares orgânicas de junção única ultrapassou 20%, e a maior eficiência das células de perovskita também superou 26%. Este artigo parte da estrutura das OPV e PSC para resumir as principais funções dos eletrodos, camadas de transporte e camada fotoativa nas células. Com base nisso, apresenta os princípios e métodos comuns de imageamento de defeitos microscópicos, incluindo fotoluminescência (PL), eletroluminescência (EL), imageamento de corrente induzida por feixe de laser (LBIC) e imageamento térmico por bloqueio de fase (LIT), resumindo os recentes avanços na aplicação desses métodos no estudo dos processos de falha em OPV e PSC e na caracterização da uniformidade em grandes áreas. Finalmente, aponta as limitações atuais dos testes de imageamento de defeitos microscópicos e as direções futuras de desenvolvimento. Este artigo oferece uma introdução relativamente completa aos métodos de imageamento de defeitos microscópicos e suas aplicações em novas células solares de película nanométrica.

关键词

células fotovoltaicas orgânicas; células fotovoltaicas de perovskita; imageamento de defeitos; mecanismos de falha; análise de uniformidade

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