Preparação de fotodetector de filme monocristalino de perovskita de alto desempenho baseado no método de descolamento de molde

SHAN Dongming ,  

ZHANG Hanwen ,  

ZHANG Qingwen ,  

ZHAGN Hu ,  

DING Ran ,  

摘要

Nos últimos anos, os materiais semicondutores híbridos de perovskita têm sido amplamente valorizados no campo de dispositivos optoeletrônicos devido às suas muitas vantagens, como a banda proibida ajustável, alto coeficiente de absorção, alta mobilidade de portadores e baixo custo, em dispositivos como células solares, dispositivos eletroluminescentes e fotodetectores. Entre eles, filmes monocristalinos de perovskita mostram características ópticas e elétricas superiores devido à ausência de limites de grão e baixo teor de impurezas e defeitos, tornando-os um sistema material ideal para fabricar dispositivos optoeletrônicos de alto desempenho. No entanto, filmes monocristalinos de perovskita normalmente são cultivados diretamente sobre a camada de transporte de lacunas pelo método de confinamento espacial, o que inevitavelmente leva a problemas de defeitos de interface e transporte de portadores entre as camadas, restringindo seriamente o desempenho dos fotodetectores de filmes monocristalinos de perovskita. Para isso, este trabalho introduziu a tecnologia do método de descolamento de molde, depositando camadas funcionais em ambos os lados do filme monocristalino de perovskita para preparar um fotodetector de filme monocristalino de perovskita com estrutura Cu/BCP/C60/MAPbBr3/MoO3/Ag. Com base no método de descolamento de molde, as camadas funcionais depositadas dos dois lados mantêm contato estreito com o filme monocristalino de perovskita, melhorando efetivamente a injeção e transporte dos portadores; ao mesmo tempo, a estrutura do dispositivo otimizada e a consideração do alinhamento de bandas de energia permitem realizar um fotodetector de filme monocristalino de alta sensibilidade e resposta rápida. O dispositivo melhorado apresenta uma razão liga/desliga de até 3,1 × 103, responsividade de 7,15 A/W, taxa de detecção de 5,39 × 1012 Jones e eficiência quântica externa de 1794%. Este trabalho oferece uma solução técnica viável para melhorar e aumentar o desempenho dos fotodetectores de filmes monocristalinos de perovskita.

关键词

materiais semicondutores híbridos de perovskita;filme monocristalino de perovskita;método de descolamento de molde;fotodetector

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