A detecção de raios X é amplamente aplicada em diagnóstico médico, inspeção industrial, segurança e outras áreas, sendo o detector de matriz de raios X um componente chave dos equipamentos de imagem. A utilização de materiais semicondutores para converter raios X diretamente em sinal elétrico permite alcançar alta resolução espacial. Nos últimos anos, os materiais de perovskita tornaram-se materiais de destaque para detectores diretos de raios X devido ao seu elevado coeficiente de atenuação de raios X, longa distância de difusão de portadores e estabilidade à radiação. Este artigo apresenta uma breve introdução ao princípio da detecção direta de raios X, propriedades-chave e materiais centrais, explica as vantagens das perovskitas halogenadas em detectores diretos de raios X, revisa as características e os avanços recentes dos detectores de pixel único e dos detectores de matriz integrados com TFT, e, por fim, apresenta os desafios técnicos atuais e potenciais soluções, com uma perspectiva sobre as tendências futuras dos detectores de matriz de raios X baseados em perovskitas halogenadas.

imageamento por detecção de raios X; perovskita; detector de matriz; integração TFT