X선 검출 기술은 의료 진단, 보안 검사 및 과학 연구 등 분야에서 널리 사용되고 있습니다. 직접형 X선 검출기는 더 높은 이론적 검출 효율과 공간 및 에너지 분해능을 가지고 있어 국내외에서 폭넓은 관심을 받고 있습니다. 페로브스카이트 재료는 높은 X선 감쇠 계수, 높은 체적 저항률, 적절한 광학 밴드갭 및 대면적 제조 용이성 등의 장점으로 인해 직접형 X선 검출기의 이상적인 재료가 되었습니다. 검출 성능에 대한 요구가 계속 증가함에 따라 합리적인 장치 구조 설계가 특히 중요해졌습니다. 본 논문은 전극 공학과 밴드 엔지니어링 두 가지 측면에서 직접형 페로브스카이트 X선 검출기 장치 구조 설계의 최신 진전을 종합적으로 검토하였습니다. 마지막으로, 이러한 연구 진전을 요약하고 미래 발전 방향을 전망하였습니다. 본 리뷰가 연구자들에게 참고와 영감을 제공할 수 있기를 바랍니다.

페로브스카이트 X선 검출기;장치 구조;전극 공학;밴드 엔지니어링;이종 접합